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HN2016智能sf6微水測(cè)試儀微水測(cè)試儀 SF6氣體回收裝置 sf6氣體檢漏儀 5年保修
露點(diǎn) |
測(cè)量範(fàn)圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測(cè)量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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測(cè)量時(shí)間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
|
環(huán)境溫度 |
-40℃~+60℃ |
對(duì)於通信係統(tǒng)來說,諧波失真信號(hào)表現(xiàn)為通信頻帶中的乾擾信號(hào),容易導(dǎo)致係統(tǒng)的信噪比下降,嚴(yán)重影響通信係統(tǒng)的容量和質(zhì)量,因此快速的測(cè)量諧波失真顯得非常重要。諧波失真產(chǎn)物屬於一種可預(yù)見性的失真,它們直接與輸入信號(hào)的頻率相關(guān)。在實(shí)際測(cè)量中,通常使用頻譜儀來測(cè)量信號(hào)的總諧波失真(TotalHarmonicDistortion,簡稱THD),並以此作為諧波失真程度的評(píng)估依據(jù)。方法一:利用掃頻功能手動(dòng)測(cè)量利用頻譜儀測(cè)量信號(hào)的諧波失真時(shí),在測(cè)量過程中經(jīng)過多次手動(dòng)調(diào)節(jié)信號(hào)的頻率、分辨率帶寬、掃描時(shí)間、頻寬等儀器測(cè)量參數(shù),並利用標(biāo)記讀出各次諧波的幅度值,然後根據(jù)諧波失真計(jì)算公式手動(dòng)計(jì)算總諧波失真值。1、連接SF6設(shè)備
將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;
再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。
3、開始測(cè)量
打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。
設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5~10分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要3~5分鐘。
4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。單路測(cè)徑儀是以光電原理進(jìn)行外徑檢測(cè)的設(shè)備,單組測(cè)頭測(cè)量一個(gè)方向上的外徑尺寸,同時(shí)測(cè)頭可進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn),測(cè)量線棒材的外徑尺寸,並對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。旋轉(zhuǎn)式單路測(cè)徑儀的使用很大程度上解決了橢圓度等的測(cè)量問題。單路測(cè)徑儀係統(tǒng)是集光學(xué)、機(jī)械、電子電路、通訊和計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)為一身的成套設(shè)備。該套設(shè)備主要由測(cè)徑儀、控製櫃、工控機(jī)、顯示器、聲光報(bào)警器、通訊單元等組成。單路測(cè)徑儀的測(cè)頭分為發(fā)射鏡頭和接收鏡頭,為保證360°範(fàn)圍測(cè)量,本方案將測(cè)頭安裝在一個(gè)主盤體上。
5、測(cè)量其他設(shè)備
一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。
6、測(cè)量結(jié)束
所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。
世界半導(dǎo)體工業(yè)界,這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。麵對(duì)現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限,借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能,使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷,矽晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國科學(xué)家的科技成果顯示,將10納米長的圖案壓印在矽片上的時(shí)間為四百萬分之一秒,把矽片上晶體管的密度提高了100倍,同時(shí)也大大提高了線生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化,使摩爾定律繼續(xù)適用。
1、保存數(shù)據(jù)
在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。
設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。
顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。充電準(zhǔn)備就緒測(cè)試:檢查供電設(shè)備是否能檢測(cè)到車輛準(zhǔn)備就緒並啟動(dòng)充電。啟動(dòng)及充電階段測(cè)試:在充電過程中,檢查供電設(shè)備是否能通過PWM信號(hào)占空比告知其可供電能力。正常充電結(jié)束測(cè)試:檢查供電設(shè)備在收到車輛停止充電指令時(shí)充電結(jié)束過程是否正常。充電連接控製時(shí)序測(cè)試本測(cè)試的目的是檢查供電設(shè)備充電連接控製狀態(tài)跳轉(zhuǎn)和時(shí)間間隔是否滿足要求。狀態(tài)轉(zhuǎn)換示意圖如下圖所示,充電時(shí)供電設(shè)備充電連接時(shí)序應(yīng)滿足GB/T18487.1-2015中A.4和A.5規(guī)定的要求。
3、刪除記錄
在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時(shí)間
在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。
輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。
如果用戶用IT64連接用電產(chǎn)品,使用電池模擬功能來模擬電池供電環(huán)境下的產(chǎn)品功耗,就可以將電池特性參數(shù)編輯為逐步下降的放電參數(shù)。IT64將根據(jù)表格參數(shù)自動(dòng)擬合出一條平滑的放電曲線,減小用戶編輯參數(shù)的工作量,提真能力。.CSV文件示意用戶也可以利用IT64係列的電池放電功能,對(duì)設(shè)備原配電池進(jìn)行放電測(cè)試,通過上位機(jī)軟件采集到電池在放電中的電壓、放電容量等參數(shù),得到放電特性曲線。使用艾德克斯IT511內(nèi)阻測(cè)試儀測(cè)得電池的內(nèi)阻值,來獲取IT64需要的電池模擬參數(shù),以支持智能設(shè)備的研發(fā)測(cè)試。